真理光學致力于高端顆粒表征儀器的研制與制造，包括激光（衍射法）粒度分析儀、動態(tài)光散射納米粒度及Zeta電位分析儀、顆粒圖像分析儀，涵蓋實驗室設備和在線檢測系統(tǒng)。公司秉持“科學態(tài)度，工匠精神”，為用戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務。團隊聚集了顆粒表征領域的杰出人才，以張福根博士為代表。張博士兼任董事主席兼首席科學家，同時擔任全國顆粒表征及分檢與篩網(wǎng)標準化技術(shù)委員會副主任委員、天津大學兼職教授，曾任中國顆粒學會副理事長，還是“歐美克”公司創(chuàng)始人。秦和義先生，曾擔任英國某粒度儀器公司中國總經(jīng)理20余年，現(xiàn)為商務總經(jīng)理。公司以豐富經(jīng)驗的團隊為支持，不斷推動顆粒表征技術(shù)創(chuàng)新。

公司在激光（衍射法）粒度儀領域深耕，針對現(xiàn)有儀器局限展開研究，提出了衍射光斑（愛里斑）的反常變化現(xiàn)象（ACAD），解釋了3μm左右聚苯乙烯微球不能測量的原因，發(fā)現(xiàn)了反常區(qū)（不能測量粒徑）的公式，研究了衍射儀器的測量上下限，探究了顆粒折射率偏差對結(jié)果影響，提出估算折射率的方法。公司還創(chuàng)新斜置梯形窗口技術(shù)解決大角測量盲區(qū)，提出統(tǒng)一的反演算法，設計高速數(shù)據(jù)采樣電路，提升亞微米顆粒測量水平，且在納米粒度及Zeta電位儀領域提出先進的余弦擬合相位分析法，以光纖取代傳統(tǒng)分束，使Zeta電位測量更穩(wěn)定。公司融合科研與工匠精神，為顆粒表征領域帶來創(chuàng)新突破，助力科學發(fā)展。